用Labview排出3V纽扣电池来测试电池的使用寿命？

Question

我想模拟/测量3V纽扣电池的使用寿命。这是这将给突发到所述电池的电路：

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突发与CTRL1和CTRL2线与一些定时rquirements控制。

一个突发是：

   ARM TX RX  TX  RX TX 
CTRL1   L  H H  H  H H 
CTRL2   H  H L  H  L H 
Length (ms)  3.72 2.6 0.84 4.04 0.8 1 

H = 10 V 
L = 0 V 

现在我想通过应用一个突发间隙的一个突发间隙等，以消耗电池.. 的间隙应是可变的。首先，我想用10秒作为差距。我想绘制电池特性。我想模拟例如5年，这应该是1.2天的模拟。我有NI PCI 6221（37针）DAQ卡。有人能帮我为这个项目制作一个VI吗？爆发应该处于一个循环中，我应该能够控制它应该运行多长时间（即1天或1.5天）以及我如何将10 V或0 V应用于Labview中的CTRL1和CTRL2行？

在此先感谢。

编辑：

确定我现在已经由具有从其中电压获取的输入的物理信道一个汽车无获取电压和图形VI。但我不知道如何做计数器部分，它会输出TTL（MOSFET）的定时信号来创建带有间隙的突发信号，然后这些信号将会流失电池。

Answer 1

从DAQ助手开始。寻找包含这个VI的教程。 在测量I/O> DAQmx - 数据采集> DAQ助手下查看框图。您应该可以将其挂接到您的DAQ卡上。

也请看NI Forums。

编辑：如果您不熟悉或不熟悉LabVIEW，只需浏览位于NI LabVIEW \ LabVIEW x.x \ examples中的示例代码即可。对于你的应用程序，examples \ DAQmx可能会有相关的代码。首先坚持基础，例如\一般。你甚至可以修改这些例子只是不要意外覆盖。